GTEM小室就是縱向電磁波傳播模式的高斯小房間(Gaussian-TEM mode)，是一種替代控制 measurement of electromagnetic interference (EMI) 和實現(xiàn)電磁兼容性(EMC)試驗的設(shè)備。原理是通過裝在房間中央和地面之間的柱形射頻引線產(chǎn)生電磁感應(yīng)。由于電磁波會被金屬殼體反射，從而形成一個類似于光學(xué)凸透鏡的效果，收集到射頻引線的電磁波進(jìn)入導(dǎo)管并強(qiáng)制以恒定的模式沿著房間旋轉(zhuǎn)。這個模式上的場是橫向電磁場和縱向磁場的混合。因此，任何需要進(jìn)行電磁輻射測試或電場耦合/繞射測試的設(shè)備都可以在其中放置進(jìn)行測量，同時還可以在非常低的內(nèi)剖面設(shè)置測試儀器。

　　GTEM小室使用過程中的注意事項：
 

　　1.盡量避免人工造成大量靜電荷積累，防止對測量產(chǎn)生影響；
 

　　2.溫度濕度在規(guī)定范圍之內(nèi)，濕度條件不宜過高，以避免設(shè)備受潮；
 

　　3.嚴(yán)格按照測試規(guī)程來設(shè)置實驗?zāi)康暮途唧w流程，以避免延誤測試結(jié)果；
 

　　4.必要時進(jìn)行盲測試或?qū)φ諏嶒?，提升測試結(jié)果的可重復(fù)性；
 

　　5.充分保養(yǎng)設(shè)備，根據(jù)廠家要求進(jìn)行定期維護(hù)，清潔設(shè)備內(nèi)部雜物。
 

　　GTEM小室廣泛應(yīng)用于電子和通信設(shè)備的EMC測試以及RFI/EMI測量。其中，其主要應(yīng)用包括：
 

　　1.放射性EMI測量：用于測試電子設(shè)備放射性EMI的強(qiáng)度和頻率分布。
 

　　2.抗擾度測試：測試電子設(shè)備對外部EMC干擾的抗擾度能力。
 

　　3.發(fā)射性EMI測量：電子設(shè)備在各種工作頻率下的EMI發(fā)射性能。
 

　　4.通信設(shè)備測試：通信設(shè)備的抗擾度和放射性EMI性能。